歐瑞凡二次元影像測量儀

產(chǎn)品介紹

SRN系列光學(xué)影像測量儀不但采用高清晰CCD取像,結(jié)合多極變焦物鏡,而且配備簡單易用的測量軟件,具備點(diǎn),線,圓,兩點(diǎn)距離,角度量測功能及坐標(biāo)平移功能,測量數(shù)據(jù)可以輸出到EXCEL,WORD中或?qū)⑵淞繙y元素的幾何圖形輸出DXF軟件的自動尋邊功能更增強(qiáng)了測量的度,減少了人為誤差，可以對二維測量的座標(biāo)進(jìn)行視覺化分析處理，應(yīng)用于各種工、模具的測量及逆向工程。廣泛用于具有S端子，五金件，手機(jī)零配件等的精密測量儀器。
另外一項(xiàng)重要的特點(diǎn)是：通過在測量機(jī)Z軸上的高精度的CCD數(shù)字?jǐn)z像頭，將被測微小尺寸予以放大，利用先進(jìn)的圖像信息處理技術(shù)，可編程控制光學(xué)照明技術(shù)實(shí)現(xiàn)對微小或易變形的零部件的非接觸測量，從而可替代工具顯微鏡和投影儀，可以方便的確定被測物體的邊界條件，求得產(chǎn)品的真實(shí)值．
特點(diǎn)如下：
1． 影像采用手動定位尋邊，自動尋邊工具，自動影像對焦指示器，輕松獲取清晰影像。
2． 數(shù)碼影像放大功能，連續(xù)變倍鏡頭,可以30X-190X連續(xù)變倍,LED冷光源避免了工件的二次變形．
3． 程序編輯功能，自動生成精度檢測報(bào)告功能。
4． Z軸采用交叉導(dǎo)軌加配重塊的全新設(shè)計(jì),鏡頭上下升降受力均衡,確保精度。
5． *的濾光設(shè)計(jì)，可使CCD基本上不受環(huán)境光影響。
6． 引進(jìn)德國技術(shù)，一健式操作，德國全局誤差控制系統(tǒng),無積累誤差。
7． 無間隙磨擦傳動,既可小范圍微調(diào)也可快速移動，實(shí)現(xiàn)定位準(zhǔn)確。
8． 測量軟件簡便易用，學(xué)員可以快速學(xué)習(xí)及掌握。
9． 被測工件可以任意擺放，并且可以實(shí)現(xiàn)多角度測量，工作臺具備開敞的工作空間，裝卡工件及測量觀察都異常方便，投影頭可以運(yùn)動到工作空間的任意位置，極大的方便了測量。
 

技術(shù)參數(shù)：
結(jié)構(gòu)機(jī)型：手動影像2.5D
傳動方式：預(yù)載荷高精度空氣軸承
機(jī) 臺：高精度花崗巖平臺
運(yùn)動行程：400mm*300mm
金屬臺尺寸：710mm*610mm
玻璃臺面：440mm*340mm
外型尺寸L*W*H：800mm*610mm*900mm
儀器重量：330kg
測量與瞄準(zhǔn)系統(tǒng):
攝像機(jī)：SONY彩色1/3"CCD攝像 雙焦物鏡倍率： 0.7-4.5X
工作距離：75mm 物方視場：14-2.2mm
電視總倍率：30-190X 顯示器：15英寸彩色顯示器
環(huán)境條件要求：
測量機(jī)室溫度要求：測量機(jī)室的溫度：18-22℃
機(jī)器周圍環(huán)境的zui大溫度梯度：1℃/h 2℃/24h，1℃/m
供氣系統(tǒng)：zui小供氣壓力：0.5Mpa 耗氣量：120L/min
供電系統(tǒng)：電壓：220V±10%，zui大耗電量：2000W，電流：1
用電設(shè)備要求接地可靠：接地電阻小于4歐姆

2D――功能介紹

元素測量：測量點(diǎn)、線、圓、弧、角度、橢圓，規(guī)定點(diǎn)數(shù)測量矩形，自動識別點(diǎn)、線、圓、弧。
元素構(gòu)造：中心點(diǎn)構(gòu)造、交點(diǎn)構(gòu)造、中點(diǎn)構(gòu)造、線構(gòu)造、圓構(gòu)造、角度構(gòu)造。
元素預(yù)置：點(diǎn)、線、圓、弧。
圖形處理：座標(biāo)平移，工件擺正。任意軸擺正，座標(biāo)系重置。
圖形放大，圖形縮小，圖形平移，圖形打印圖形選中，取消選中，圖形刪除。
設(shè)置放大，圖形縮小，圖形打印圓形選中，取消選中，圖形刪除。
設(shè)置影像的灰度，飽和度，對比度，影像保存為BMP格式。
多種尋邊模式，電腦自動取點(diǎn)，自動識別圓、弧大大提高采點(diǎn)速度。
影像支持S端子輸入；影像大小640*480mm。測量數(shù)據(jù)直接發(fā)送到AutoCAD中，測量的圖形可以dxf文檔保存。測量數(shù)據(jù)可發(fā)送到WORD，Excel中，進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，可畫出簡單的Xbar-S管制圖，求出Ca，等各種參數(shù)。多種語言界面切換。

2.5D--功能介紹

光學(xué)測量高度：測量任意兩個(gè)平面的高度，非接觸測量減少接觸所產(chǎn)生的變形因素！

平面度　測量：同時(shí)測量同一平面多個(gè)點(diǎn)的平面度！

沉角　　測量：對于不同高度的兩個(gè)圓產(chǎn)生的沉角可以進(jìn)行測量！